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供应三次元形状計測装置 C10352-01

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产品名称: 供应三次元形状計測装置 C10352-01
产品型号: C10352-01
产品展商: 日本滨松

简单介绍
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供应三次元形状計測装置 C10352-01 的详细介绍

三次元形状計測装置 C10352-01
C10352-01は、白色干渉法を用いた三次元形状計測装置です。MEMSデバイスの各面の平坦度や深さ、バンプ高さなどの0.1μm以上の高い計測精度要求に応えます。C10352-01は、高速で高精度な測定を低価格で計測したいというユーザーの要望に応えました。
特 長
● 
ナノメートルオーダーの高さ分解能で計測
● 
二次元カメラによる画面内一括計測
● 
対物レンズ交換により視野サイズを変更可能
●  26  μm/s
の高速走査で計測
● 
オリジナル解析アルゴリズムにより高速高精度な解析が可能
測定対象
●  Si
局所的エッチングの深さ計測
●  IC
チップ内の反り
● 
バンプ電極の形状計測
● 
マイクロレンズアレイの欠陥検査
● 
マイクログレーティングの形状検査
● 
研削研磨面の粗さ
●  LD
チップのマウント位置と傾き
●  LD
アレイのマウント検査

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